Penguji diod dan transistor bipolar. Ensiklopedia elektronik radio dan kejuruteraan elektrik

Ensiklopedia elektronik radio dan kejuruteraan elektrik / Teknologi mengukur

 Komen artikel

Kebanyakan penguji moden (multimeter) mempunyai fungsi terbina dalam untuk menguji diod dan kadangkala transistor. Tetapi jika penguji anda tidak mempunyai fungsi ini, maka anda boleh memasang penguji diod dan transistor dengan tangan anda sendiri. Di bawah ialah projek penguji pada mikropengawal PIC16F688.

Logik untuk menguji diod adalah sangat mudah. Diod ialah persimpangan PN, yang diketahui mengalirkan arus dalam satu arah sahaja. Oleh itu, diod kerja akan mengalirkan arus dalam satu arah. Jika diod mengalirkan arus dalam kedua-dua arah, maka diod tidak berfungsi - ia rosak. Jika diod tidak mengalir ke mana-mana arah, maka diod juga tidak berfungsi. Pelaksanaan litar logik ini ditunjukkan di bawah.

Logik ini boleh disesuaikan dengan mudah untuk menguji transistor bipolar, yang mengandungi dua persimpangan PN: satu antara tapak dan pemancar (persimpangan BE) dan yang kedua antara tapak dan pengumpul (persimpangan BC). Jika kedua-dua persimpangan mengalirkan arus hanya dalam satu arah, transistor berfungsi, jika tidak, ia tidak berfungsi. Kita juga boleh mengenal pasti jenis transistor pnp atau npn dengan menentukan arah pengaliran arus. Untuk menguji transistor, mikropengawal menggunakan 3 input/output

Urutan untuk menguji transistor:

1. Hidupkan output (set kepada satu) D2 dan baca D1 dan D3. Jika D1 adalah logik, simpang BE mengalirkan arus, jika tidak, ia tidak. Jika D3 ialah 1, maka BC mengalirkan arus, jika tidak, ia tidak.
2. Tetapkan output D1 kepada 1 dan baca D2. Jika D2 ialah 1, maka EB mengalirkan arus, jika tidak, ia tidak.
3. Tetapkan output D3 kepada 1 dan baca D2. Jika D2 ialah 1, maka CB mengalirkan arus, jika tidak, ia tidak.

Selanjutnya, jika BE dan BC mengalirkan arus, maka transistor adalah jenis NPN dan berfungsi. Jika EB dan CB mengalirkan arus, maka transistor adalah jenis pnp dan juga berfungsi. Dalam semua kes lain (contohnya, EB dan EB mengalirkan arus atau kedua-dua peralihan BC dan CB tidak mengalir, dsb.) transistor tidak dalam keadaan berfungsi.

Gambar rajah utama penguji dan penerangan diod dan transistor

(klik untuk memperbesar)

Litar penguji adalah sangat mudah. Peranti mempunyai 2 butang kawalan: Pilih dan Perincian. Dengan menekan butang Pilih, jenis ujian dipilih: ujian diod atau transistor. Butang Butiran hanya berfungsi dalam mod ujian transistor; skrin LCD menunjukkan jenis transistor (npn atau pnp) dan status kekonduksian peralihan transistor.

Tiga kaki transistor yang diuji (pemancar, pengumpul dan tapak) disambungkan ke tanah melalui perintang 1 kOhm. Untuk ujian, pin RA0, RA1, dan RA2 mikropengawal PIC16F688 digunakan. Untuk menguji diod, hanya dua terminal digunakan: E dan K (ditunjukkan D1 dan D2 dalam rajah).

Program

Perisian untuk projek ini ditulis menggunakan pengkompil MikroC. Semasa ujian dan pengaturcaraan, berhati-hati dan pantau tetapan input/output MK (RA0, RA1 dan RA2) kerana mereka kerap berubah semasa operasi. Sebelum menetapkan sebarang output kepada 1, pastikan dua input/output lain MCU ditakrifkan sebagai input. Jika tidak, konflik antara input/output MK adalah mungkin.

/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
 Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init();           // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);       // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF);    // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1);      // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
 if(!SelectButton){
 debounce_delay();
 update_select = 1;
 switch (select) {
  case 0 : select=1;
  break;
  case 1 : select=0;
  break;
 } //case end
 }

 if(select == 0){  // Diode Tester
 if(update_select){
  Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
  Lcd_Out(1,2,message1);
  Lcd_Out(2,2,message3);
  update_select=0;
 }
 TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
 TestPin1 = 1;
 test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
 TestPin1 = 0;
 TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
 TestPin3 = 1;
 test2 = TestPin1;
 TestPin3 = 0;

 if((test1==1) && (test2 ==1)){
  Lcd_Out(2,10,message4);
 }
 if((test1==1) && (test2 ==0)){
  Lcd_Out(2,10,message6);
 }
 if((test1==0) && (test2 ==1)){
  Lcd_Out(2,10,message6);
 }
 if((test1==0) && (test2 ==0)){
  Lcd_Out(2,10,message5);
 }

 } // End if(select == 0)

 if(select && !detail_select){   // Transistor Tester
 if(update_select){
  Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
  Lcd_Out(1,2,message2);
  update_select = 0;
 }
 // Test for BE and BC Junctions of n-p-n
 TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
 TestPin2 = 1;
 BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
 BC_Junc = TestPin3;  // Read I/P at RA2
 TestPin2 = 0;

 // Test for EB and CB Junctions of p-n-p
 TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
 TestPin1 = 1;
 EB_Junc = TestPin2;
 TestPin1 = 0;
 TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
 TestPin3 = 1;
 CB_Junc = TestPin2;
 TestPin3 = 0;

 if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
  Lcd_Out(2,2,message3);
  Lcd_Out(2,10,message6);
  type = "n-p-n";
  BE_info = "Good ";
  BC_info = "Good ";
 }
 else
  if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
  Lcd_Out(2,2,message3);
  Lcd_Out(2,10,message6);
  type = "p-n-p";
  BE_info = "Good ";
  BC_info = "Good ";
 }
 else {
  Lcd_Out(2,2,message3);
  Lcd_Out(2,10,"Bad ");
  type = "Bad";
 }
 }
 if(select && !Detail){
 debounce_delay();
 switch (detail_select) {
  case 0 : detail_select=1;
  break;
  case 1 : detail_select=0;

  break;

 } //case end
 update_select = 1;
 }

 if(detail_select && update_select){

 // Test for BE Junction open
 if(!BE_Junc && !EB_Junc){
  BE_info = "Open ";
 }
 // Test for BC Junction open
 if(!BC_Junc && !CB_Junc){
  BC_info = "Open ";
 }
 // Test for BE Junction short
 if(BE_Junc && EB_Junc){
  BE_info = "Short";
 }

 // Test for BC Junction short
 if(BC_Junc && CB_Junc){
  BC_info = "Short";
 }
 Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
 Lcd_Out(1,1,"Type:");
 Lcd_Out(1,7,type);
 Lcd_Out(2,1,"BE:");
 Lcd_Out(2,4,BE_info);
 Lcd_Out(2,9,"BC:");
 Lcd_Out(2,12,BC_info);
 update_select = 0;
 }    // End if (detail_select)

} while(1);
}

Pengarang: Koltykov A.V.; Penerbitan: cxem.net

Lihat artikel lain bahagian Teknologi mengukur.

Baca dan tulis berguna komen pada artikel ini.

<< Belakang

Berita terkini sains dan teknologi, elektronik baharu:

Mesin untuk menipis bunga di taman 02.05.2024

Dalam pertanian moden, kemajuan teknologi sedang dibangunkan bertujuan untuk meningkatkan kecekapan proses penjagaan tumbuhan. Mesin penipisan bunga Florix yang inovatif telah dipersembahkan di Itali, direka untuk mengoptimumkan peringkat penuaian. Alat ini dilengkapi dengan lengan mudah alih, membolehkan ia mudah disesuaikan dengan keperluan taman. Operator boleh melaraskan kelajuan wayar nipis dengan mengawalnya dari teksi traktor menggunakan kayu bedik. Pendekatan ini dengan ketara meningkatkan kecekapan proses penipisan bunga, memberikan kemungkinan penyesuaian individu kepada keadaan khusus taman, serta jenis dan jenis buah yang ditanam di dalamnya. Selepas menguji mesin Florix selama dua tahun pada pelbagai jenis buah, hasilnya amat memberangsangkan. Petani seperti Filiberto Montanari, yang telah menggunakan mesin Florix selama beberapa tahun, telah melaporkan pengurangan ketara dalam masa dan tenaga kerja yang diperlukan untuk menipis bunga. ...>>

Mikroskop Inframerah Lanjutan 02.05.2024

Mikroskop memainkan peranan penting dalam penyelidikan saintifik, membolehkan saintis menyelidiki struktur dan proses yang tidak dapat dilihat oleh mata. Walau bagaimanapun, pelbagai kaedah mikroskop mempunyai hadnya, dan antaranya adalah had resolusi apabila menggunakan julat inframerah. Tetapi pencapaian terkini penyelidik Jepun dari Universiti Tokyo membuka prospek baharu untuk mengkaji dunia mikro. Para saintis dari Universiti Tokyo telah melancarkan mikroskop baharu yang akan merevolusikan keupayaan mikroskop inframerah. Alat canggih ini membolehkan anda melihat struktur dalaman bakteria hidup dengan kejelasan yang menakjubkan pada skala nanometer. Biasanya, mikroskop inframerah pertengahan dihadkan oleh resolusi rendah, tetapi perkembangan terkini daripada penyelidik Jepun mengatasi batasan ini. Menurut saintis, mikroskop yang dibangunkan membolehkan mencipta imej dengan resolusi sehingga 120 nanometer, iaitu 30 kali lebih tinggi daripada resolusi mikroskop tradisional. ...>>

Perangkap udara untuk serangga 01.05.2024

Pertanian adalah salah satu sektor utama ekonomi, dan kawalan perosak adalah sebahagian daripada proses ini. Satu pasukan saintis dari Majlis Penyelidikan Pertanian India-Institut Penyelidikan Kentang Pusat (ICAR-CPRI), Shimla, telah menghasilkan penyelesaian inovatif untuk masalah ini - perangkap udara serangga berkuasa angin. Peranti ini menangani kelemahan kaedah kawalan perosak tradisional dengan menyediakan data populasi serangga masa nyata. Perangkap dikuasakan sepenuhnya oleh tenaga angin, menjadikannya penyelesaian mesra alam yang tidak memerlukan kuasa. Reka bentuknya yang unik membolehkan pemantauan kedua-dua serangga berbahaya dan bermanfaat, memberikan gambaran keseluruhan populasi di mana-mana kawasan pertanian. "Dengan menilai perosak sasaran pada masa yang tepat, kami boleh mengambil langkah yang perlu untuk mengawal kedua-dua perosak dan penyakit," kata Kapil ...>>

Berita rawak daripada Arkib Irama otak dan pembelajaran 02.03.2015 Adalah diketahui bahawa aktiviti neuron otak berkembang menjadi gelombang atau irama yang boleh dilihat pada elektroensefalogram: irama alfa, irama beta, irama gamma, dan lain-lain. Irama menggantikan satu sama lain bergantung pada apa sebenarnya yang dilakukan oleh orang itu pada masa ini. Sebagai contoh, gelombang alfa muncul semasa rehat, apabila kita tidak sibuk dengan apa-apa, tetapi kita juga tidak tidur; gelombang delta sepadan dengan tidur tanpa mimpi yang mendalam; jika perhatian tertumpu pada sesuatu tugas, maka ini dapat dilihat daripada irama theta dan gamma yang pantas. Selain itu, kawasan otak yang berbeza boleh menghasilkan gelombang yang berbeza kerana mereka melakukan tugas yang berbeza. Dengan memerhatikan dinamik irama, seseorang boleh mengatakan banyak tentang bagaimana "jabatan" otak berkomunikasi antara satu sama lain dan bagaimana tanggungjawab diagihkan dalam menyelesaikan tugas kognitif yang berkaitan dengan ingatan, perhatian, dll. Dalam makalah yang diterbitkan dalam Nature Neuroscience, Earl Miller dan Scott Brincat dari Massachusetts Institute of Technology menerangkan perubahan dalam aktiviti gelombang otak yang mengiringi ingatan dan pembelajaran. Penyelidik tidak berminat dengan ingatan secara umum, tetapi dalam bentuknya, yang dipanggil eksplisit: ia bertanggungjawab, sebagai contoh, untuk hubungan antara objek, peristiwa, dll. Kami mengaitkan penampilan seseorang dengan namanya, tetapi peristiwa tertentu dengan tempat di mana ia berlaku, sebagai masa terima kasih kepada ingatan eksplisit. Ia dibentuk dengan usaha sedar aktif di pihak individu, dan ia wujud bukan sahaja pada manusia, tetapi juga pada haiwan. Dalam eksperimen itu, monyet telah ditunjukkan sepasang gambar, jadi pautan yang kuat perlu diwujudkan antara beberapa gambar. Monyet belajar melalui percubaan dan kesilapan: mereka ditunjukkan gambar berulang kali, dan mereka perlu meneka sama ada mereka berkaitan atau tidak. Jika haiwan itu meneka dengan betul bahawa objek yang digambarkan adalah berkaitan antara satu sama lain, ia diberi hadiah. Pada masa yang sama, para penyelidik merekodkan aktiviti dalam hippocampus dan korteks prefrontal, dua kawasan otak yang memainkan peranan penting dalam pembelajaran. Ternyata kekerapan ombak di dalamnya berubah bergantung kepada sama ada monyet itu memberikan jawapan yang betul atau salah. Jika hasilnya sepadan dengan jangkaan, maka irama beta muncul dengan frekuensi 9-16 Hz. Jika jawapannya salah, maka frekuensi turun kepada 2-6 Hz, yang sepadan dengan irama theta. Penghafalan dikaitkan dengan pembentukan litar saraf baru: sambungan sinaptik antara neuron mengekalkan "sel memori" dalam keadaan berfungsi. Sebelum ini telah ditunjukkan bahawa kekuatan sinaps (iaitu, kekuatan dan kecekapan mereka) bergantung pada irama di mana sel saraf perlu bekerja: jika frekuensi beta meningkatkan hubungan antara sel, maka frekuensi theta, sebaliknya, melemahkannya. Bersama-sama dengan keputusan baru, kita boleh bayangkan model berikut: jawapan yang betul merangsang aktiviti beta di otak, yang seterusnya, menguatkan litar saraf yang terbentuk - selepas semua, mereka mengingati segala-galanya dengan betul. Jika tidak, maka aktiviti theta akan membatalkan ingatan yang salah. Ini bukan kerja pertama mengenai hubungan antara gelombang otak dan ingatan. Jadi, tahun lepas, pemenang Nobel Suzumi Tonegawa menerbitkan artikel dengan rakan sekerja yang membincangkan perkara yang sama - bagaimana otak membetulkan ingatan jika ia melihat hasil yang salah. Eksperimen tersebut dilakukan pada tikus dan tertumpu pada hippocampus dan korteks entorhinal (satu lagi pusat ingatan yang terkenal). Kemudian ahli sains saraf mendapati bahawa irama gamma berfungsi sebagai isyarat untuk membetulkan maklumat, menyegerakkan kerja dua kawasan otak. Sudah tentu, proses hafalan terlalu kompleks untuk dikurangkan hanya kepada silih berganti beberapa jenis gelombang. Dengan perubahan dalam irama elektrik, kita boleh menilai kelakuan ensembel sel yang agak besar dan keseluruhan bahagian otak pada masa seseorang individu perlu mengingati beberapa maklumat baharu. Mengapa satu jenis irama menggantikan yang lain, mekanisme apakah yang menghubungkan penggantian sedemikian dengan ingatan yang betul atau salah, penyelidik masih belum mengetahuinya. Walaupun mungkin pada masa hadapan kita akan mempunyai perangsang ingatan yang akan membantu otak beralih ke rentak yang betul apabila kita perlu mengingati sesuatu.

Berita menarik lain:

▪ Kebakaran di hutan Amazon telah mempercepatkan pencairan glasier di Andes

▪ Cip memori DRAM LPDDR5 12Gb

▪ Asustor AS3102T dan AS3104T NAS dengan sokongan video 4K

▪ Jangkaan cuti mempengaruhi rasa masa

▪ dinding bunyi

Suapan berita sains dan teknologi, elektronik baharu

Bahan-bahan menarik Perpustakaan Teknikal Percuma:

▪ bahagian tapak Kata bersayap, unit frasaologi. Pemilihan artikel

▪ Artikel Bohr Niels. Biografi seorang saintis

▪ artikel Mengapa juruterbang berani mati Jepun dipanggil kamikaze? Jawapan terperinci

▪ artikel Relau relau. Arahan standard mengenai perlindungan buruh

▪ artikel Autoguard mudah. Ensiklopedia elektronik radio dan kejuruteraan elektrik

▪ pasal French ball drop. Fokus rahsia

Tinggalkan komen anda pada artikel ini:

Semua bahasa halaman ini

Arabic	Hebrew	Polish
Bengali	Hindi	Portuguese
Chinese	Italian	Spanish
English	Japanese	Turkish
French	Korean	Ukrainian
German	Malay	Vietnamese

Laman utama | Perpustakaan | artikel | Peta Laman | Ulasan laman web

www.diagram.com.ua
2000-2024